Nghiên cứu ô nhiễm các kim loại nặng trong bụi khí ở Hà Nội bằng phương pháp phân tích Pixe trên máy gia tốc Pelletron 5SDH-2 - Nguyễn, Văn Hiệu (ĐHKHTN, 2017)
Các dịch chuyển tia X. Công thức tính suất lượng tia X đối với mẫu mỏng. Tốc độ phát tia X và cường độ vạch phổ tia X. Hiệu suất huỳnh quang và các dịch chuyển Coster-Kronig. Hàm khớp đa thức đối với dữ liệu tiết diện ion hóa. Phương pháp thu góp mẫu bụi khí. Thiết bị và quy trình phân tích mẫu bụi khí bằng kỹ thuật PIXE. Các kết quả phép đo đối với các mẫu bụi khí trên phin lọc.Một số khuyến nghị.