Nguyễn, T. H., & Trần, M. C. (2017). Thống kê Robust và ứng dụng: Luận văn ThS. Toán học: 60 46 01 06.
استشهاد بنمط شيكاغوNguyễn, Thị Huyền, و Mạnh Cường Trần. Thống Kê Robust Và ứng Dụng: Luận Văn ThS. Toán Học: 60 46 01 06. 2017.
MLA استشهادNguyễn, Thị Huyền, و Mạnh Cường Trần. Thống Kê Robust Và ứng Dụng: Luận Văn ThS. Toán Học: 60 46 01 06. 2017.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.