Nguyễn, H. A. T. (2016). A maximum likelihood method for detecting bad samples from Illumina BeadChips data. Đại học Quốc gia Hà Nội.
استشهاد بنمط شيكاغوNguyễn, Hà Anh Tuấn. A Maximum Likelihood Method for Detecting Bad Samples From Illumina BeadChips Data. Đại học Quốc gia Hà Nội, 2016.
MLA استشهادNguyễn, Hà Anh Tuấn. A Maximum Likelihood Method for Detecting Bad Samples From Illumina BeadChips Data. Đại học Quốc gia Hà Nội, 2016.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.