Chew, J. K. W., & Rofail, S. (2008). Analytical and experimental characterization of sub-half micron MOS devices.
استشهاد بنمط شيكاغوChew, Johnny Kok Wai., و Samir Rofail. Analytical and Experimental Characterization of Sub-half Micron MOS Devices. 2008.
MLA استشهادChew, Johnny Kok Wai., و Samir Rofail. Analytical and Experimental Characterization of Sub-half Micron MOS Devices. 2008.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.