أرسل هذا في رسالة قصيرة: UV Raman studies of channel stress in transistors with embedded SiGe source and drain

 __   __   __   __   __   _     _____     _  _   
 \ \\/ //  \ \\/ // | || | ||  |  ___||  | \| || 
  \   //    \ ` //  | '--' ||  | ||__    |  ' || 
  / . \\     | ||   | .--. ||  | ||__    | .  || 
 /_//\_\\    |_||   |_|| |_||  |_____||  |_|\_|| 
 `-`  --`    `-`'   `-`  `-`   `-----`   `-` -`