Lit, Y. K., & Asundi, A. K. (2019). Classification of defects in semiconductor wafer using artificial intelligence.
استشهاد بنمط شيكاغوLit, Yek Kit, و Anand Krishna Asundi. Classification of Defects in Semiconductor Wafer Using Artificial Intelligence. 2019.
MLA استشهادLit, Yek Kit, و Anand Krishna Asundi. Classification of Defects in Semiconductor Wafer Using Artificial Intelligence. 2019.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.