Sheng, T., Goh, G., Tung, C., Wang, J. L., Cheng, J. K., & MICROELECTRONICS, I. O. (2014). FIB precision TEM sample preparation using carbon replica.
استشهاد بنمط شيكاغوSheng, T.T., G.P Goh, C.H Tung, John L.F Wang, Jeng Kou Cheng, و INSTITUTE OF MICROELECTRONICS. FIB Precision TEM Sample Preparation Using Carbon Replica. 2014.
MLA استشهادSheng, T.T., et al. FIB Precision TEM Sample Preparation Using Carbon Replica. 2014.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.