Chen, W., Loh, K., Lin, M., Liu, R., Wee, A., & SCIENCE, I. O. E. (2014). Atomic force microscopy study of hexagonal boron nitride film growth on 6H-SiC (0001).
استشهاد بنمط شيكاغوChen, W., K.P Loh, M. Lin, R. Liu, A.T.S Wee, و INSTITUTE OF ENGINEERING SCIENCE. Atomic Force Microscopy Study of Hexagonal Boron Nitride Film Growth On 6H-SiC (0001). 2014.
MLA استشهادChen, W., et al. Atomic Force Microscopy Study of Hexagonal Boron Nitride Film Growth On 6H-SiC (0001). 2014.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.