Text this: Characterization of electromigration defects using scanning thermal microscopy

  ______   __   __    _  __   __   __    _____   
 /_   _//  \ \\/ //  | |/ //  \ \\/ //  |__  //  
 `-| |,-    \ ` //   | ' //    \ ` //     / //   
   | ||      | ||    | . \\     | ||     / //__  
   |_||      |_||    |_|\_\\    |_||    /_____|| 
   `-`'      `-`'    `-` --`    `-`'    `-----`