Detectivity optimization of ingaas photon emission microscope systems

• المؤلفون الرئيسيون: Tan, S.L., Yim, K.H., Chan, D.S.H., Phang, J.C.H., Zhou, Y., Balk, L.J., Chua, C.M., Koh, L.S.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
• التنسيق: Conference or Workshop Item
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/69893

10.1109/IPFA.2006.251053