Thickness dependent evolution of microstructure and magnetic properties of L10 (001) FePt films grown on TiN intermediate layer

• المؤلفون الرئيسيون: Li, H.H., Dong, K.F., Hu, J.F., Zhou, T.J., Chow, G.M., Chen, J.S.
• مؤلفون آخرون: MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING
• التنسيق: Conference or Workshop Item
• منشور في: 2014
• الموضوعات: FePt; Thickness evolution; TiN
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/75257

2012 Digest APMRC - Asia-Pacific Magnetic Recording Conference: A Strong Tradition. An Exciting New Look!