Fermi-level pinning and charge neutrality level in nitrogen-doped Ge 2 Sb2 Te5: Characterization and application in phase change memory devices
10.1063/1.3475721
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Fang, L.W.-W., Zhang, Z., Zhao, R., Pan, J., Li, M., Shi, L., Chong, T.-C., Yeo, Y.-C. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING |
التنسيق: | مقال |
منشور في: |
2014
|
الوصول للمادة أونلاين: | http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/82353 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Fermi-level pinning at the interface between metals and nitrogen-doped Ge2 Sb2 Te5 examined by x-ray photoelectron spectroscopy
بواسطة: Fang, L.W.-W., وآخرون
منشور في: (2014) -
Mechanism of charge transfer and its impacts on Fermi-level pinning for gas molecules adsorbed on monolayer WS2
بواسطة: Zhou, Changjie, وآخرون
منشور في: (2015) -
Effective suppression of fermi level pinning in poly-Si/HfO2 gate stack by using poly-SiGe gate
بواسطة: Yu, X., وآخرون
منشور في: (2014) -
Dependence of the properties of phase change random access memory on nitrogen doping concentration in Ge2Sb2 Te5
بواسطة: Fang, L.W.-W., وآخرون
منشور في: (2014) -
Dependence of energy band offsets at Ge2Sb2Te 5 / SiO2 interface on nitrogen concentration
بواسطة: Fang, L.W.-W., وآخرون
منشور في: (2014)