Effect of charged line defects on conductivity in graphene: Numerical Kubo and analytical Boltzmann approaches

10.1103/PhysRevB.87.195448

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Radchenko, T.M., Shylau, A.A., Zozoulenko, I.V., Ferreira, A.
مؤلفون آخرون: PHYSICS
التنسيق: مقال
منشور في: 2014
الوصول للمادة أونلاين:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/96297
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: National University of Singapore