Modeling of inversion and centroid charges of long channel strained-silicon surrounding gate mosfets incorporating quantum effects

This paper presents a modeling approach for strained silicon surrounding gate MOSFETs. The main contribution of this work is the simplification of the charge model by using an explicit solution technique which includes the strained and quantum effects. Quantum effects are essential due to extreme sc...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Hamid, F. K. A., Johari, Z., Alias, N. E., Lim, W. H., Sultan, S. M., Leong, W. S., Ismail, R.
التنسيق: مقال
منشور في: Institute of Physics Publishing 2020
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://eprints.utm.my/id/eprint/87031/
http://www.dx.doi.org/10.1088/1361-6641/ab5d90
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!