Nghiên cứu kỹ thuật kiểm tra không phá hủy sử dụng phương pháp siêu âm và máy nội soi công nghiệp Olympus NDT Iplex LX

Chương 1; Tổng quan về kỹ thuật NDT. Chương 2: Một số nguyên lý và kỹ thuật NDT. Chương 3: Nguyên lý Stereo imaging. Chương 4: Một số phép đo độ sâu, khoảng cách thực hiện trên thiết bị KTKPH Olympus NDT Iplex LX.

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Đinh, Văn Nam
Other Authors: Đỗ, Trung Kiên
Language:Vietnamese
Published: ĐHKHTN 2017
Online Access:http://repository.vnu.edu.vn/handle/VNU_123/39130
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Institution: Vietnam National University, Hanoi
Language: Vietnamese
Description
Summary:Chương 1; Tổng quan về kỹ thuật NDT. Chương 2: Một số nguyên lý và kỹ thuật NDT. Chương 3: Nguyên lý Stereo imaging. Chương 4: Một số phép đo độ sâu, khoảng cách thực hiện trên thiết bị KTKPH Olympus NDT Iplex LX.