Nâng cao chất lượng ảnh chụp siêu âm cắt lớp dùng phương pháp nội suy : Luận văn ThS. Kỹ thuật điên tử - viễn thông: 60 52 70

Luận văn ThS. Kỹ thuật điên tử -- Trường Đại học Công nghệ. Đại học Quốc gia Hà Nội, 2013

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Đặng, Quang Vương
Other Authors: Trần, Đức Tân
Format: Theses and Dissertations
Language:Vietnamese
Published: Trường Đại học Công nghệ 2017
Subjects:
Online Access:http://repository.vnu.edu.vn/handle/VNU_123/41991
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Institution: Vietnam National University, Hanoi
Language: Vietnamese
id oai:112.137.131.14:VNU_123-41991
record_format dspace
spelling oai:112.137.131.14:VNU_123-419912018-08-28T07:49:34Z Nâng cao chất lượng ảnh chụp siêu âm cắt lớp dùng phương pháp nội suy : Luận văn ThS. Kỹ thuật điên tử - viễn thông: 60 52 70 Đặng, Quang Vương Trần, Đức Tân Kỹ thuật điện tử Siêu âm cắt lớp Phương pháp nội suy Ảnh chụp Luận văn ThS. Kỹ thuật điên tử -- Trường Đại học Công nghệ. Đại học Quốc gia Hà Nội, 2013 Phương pháp tán xạ ngược (inverse scattering) sử dụng siêu âm cắt lớp (ultrasound tomography) cho phép đo được những cấu trúc nhỏ hơn bước song, điều mà phương pháp phổ biến trong Y-Sinh là B-mode không thể làm được, nhưng những phương pháp trong ultrasoun (...) Electronic Resources 2017-05-17T08:02:14Z 2017-05-17T08:02:14Z 2013 Thesis Đặng, Q.V. (2013). Nâng cao chất lượng ảnh chụp siêu âm cắt lớp dùng phương pháp nội suy. Luận văn Thạc sĩ, Đại học Quốc gia Hà Nội, Việt Nam 00050002425 http://repository.vnu.edu.vn/handle/VNU_123/41991 vi Luận văn Ngành Kỹ thuật Điện tử (Full) Access limited to members Thư viện nhà C1T Xuân Thủy – Cầu Giấy – Hà Nội 50 tr. application/pdf Trường Đại học Công nghệ
institution Vietnam National University, Hanoi
building VNU Library & Information Center
country Vietnam
collection VNU Digital Repository
language Vietnamese
topic Kỹ thuật điện tử
Siêu âm cắt lớp
Phương pháp nội suy
Ảnh chụp
spellingShingle Kỹ thuật điện tử
Siêu âm cắt lớp
Phương pháp nội suy
Ảnh chụp
Đặng, Quang Vương
Nâng cao chất lượng ảnh chụp siêu âm cắt lớp dùng phương pháp nội suy : Luận văn ThS. Kỹ thuật điên tử - viễn thông: 60 52 70
description Luận văn ThS. Kỹ thuật điên tử -- Trường Đại học Công nghệ. Đại học Quốc gia Hà Nội, 2013
author2 Trần, Đức Tân
author_facet Trần, Đức Tân
Đặng, Quang Vương
format Theses and Dissertations
author Đặng, Quang Vương
author_sort Đặng, Quang Vương
title Nâng cao chất lượng ảnh chụp siêu âm cắt lớp dùng phương pháp nội suy : Luận văn ThS. Kỹ thuật điên tử - viễn thông: 60 52 70
title_short Nâng cao chất lượng ảnh chụp siêu âm cắt lớp dùng phương pháp nội suy : Luận văn ThS. Kỹ thuật điên tử - viễn thông: 60 52 70
title_full Nâng cao chất lượng ảnh chụp siêu âm cắt lớp dùng phương pháp nội suy : Luận văn ThS. Kỹ thuật điên tử - viễn thông: 60 52 70
title_fullStr Nâng cao chất lượng ảnh chụp siêu âm cắt lớp dùng phương pháp nội suy : Luận văn ThS. Kỹ thuật điên tử - viễn thông: 60 52 70
title_full_unstemmed Nâng cao chất lượng ảnh chụp siêu âm cắt lớp dùng phương pháp nội suy : Luận văn ThS. Kỹ thuật điên tử - viễn thông: 60 52 70
title_sort nâng cao chất lượng ảnh chụp siêu âm cắt lớp dùng phương pháp nội suy : luận văn ths. kỹ thuật điên tử - viễn thông: 60 52 70
publisher Trường Đại học Công nghệ
publishDate 2017
url http://repository.vnu.edu.vn/handle/VNU_123/41991
_version_ 1680964066304065536