Elemental, structural and optical properties of nanocrystalline Zn1-xCuxSe films deposited by close spaced sublimation technique

p. 79-85

محفوظ في:

التفاصيل البيبلوغرافية
التنسيق:	مقال
اللغة:	other
منشور في:	H. : ĐHQGHN 2017
الموضوعات:	X-ray diffraction Morphology Dielectric constant Spectroscopic ellipsometer Energy band gap
الوصول للمادة أونلاين:	http://repository.vnu.edu.vn/handle/VNU_123/57986
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!

مواد مشابهة