Effect of annealing temperature on Cu2O thin films prepared by thermal oxidation method
We report a facile process to fabricate cuprous thin films by thermal oxidation of copper substrates. Structure and phase identification were studied by X-ray diffraction measurement and Raman spectroscopy. Scanning electron microscopy was utilized to study surface morphology of the as-fabricated th...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | , , , , , , |
---|---|
التنسيق: | مقال |
اللغة: | English |
منشور في: |
H. : ĐHQGHN
2020
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://repository.vnu.edu.vn/handle/VNU_123/89115 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
كن أول من يترك تعليقا!