A new approach to a practical subwavelength resolving microscope
Superresolution depends on near-field capture and transfer of high spatial frequencies from the scattering object. These evanescent waves are transferred to a near-field image domain using a negative index material. Measuring images with subwavelength scale resolution in the near field by scanning i...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Fiddy, Michael A., Chuang, Yi-Chen, Dudley, Richard |
---|---|
مؤلفون آخرون: | School of Electrical and Electronic Engineering |
التنسيق: | مقال |
اللغة: | English |
منشور في: |
2013
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/104226 http://hdl.handle.net/10220/16980 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Subwavelength superfocusing with a dipole-wave-reciprocal binary zone plate
بواسطة: Wang, Jun, وآخرون
منشور في: (2013) -
Study of scattering patterns and subwavelength scale imaging based on finite-sized metamaterials
بواسطة: Schenk, John O., وآخرون
منشور في: (2013) -
Study of scattering patterns and subwavelength scale imaging based on finite-sized metamaterials
بواسطة: Schenk, John O., وآخرون
منشور في: (2012) -
Optimal arrangement of meta-atoms composing metamaterials
بواسطة: Fiddy, Michael A., وآخرون
منشور في: (2012) -
A new DOA estimation approach using Volterra signal model
بواسطة: Wen, Fuxi, وآخرون
منشور في: (2013)