A new approach to a practical subwavelength resolving microscope

Superresolution depends on near-field capture and transfer of high spatial frequencies from the scattering object. These evanescent waves are transferred to a near-field image domain using a negative index material. Measuring images with subwavelength scale resolution in the near field by scanning i...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Fiddy, Michael A., Chuang, Yi-Chen, Dudley, Richard
مؤلفون آخرون: School of Electrical and Electronic Engineering
التنسيق: مقال
اللغة:English
منشور في: 2013
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://hdl.handle.net/10356/104226
http://hdl.handle.net/10220/16980
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!