A new approach to a practical subwavelength resolving microscope
Superresolution depends on near-field capture and transfer of high spatial frequencies from the scattering object. These evanescent waves are transferred to a near-field image domain using a negative index material. Measuring images with subwavelength scale resolution in the near field by scanning i...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | , , |
---|---|
مؤلفون آخرون: | |
التنسيق: | مقال |
اللغة: | English |
منشور في: |
2013
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/104226 http://hdl.handle.net/10220/16980 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
كن أول من يترك تعليقا!