APA استشهاد

See Toh, C. W., & Pang, J. H. L. (2008). Thermal stress analysis of electronic packaging components.

استشهاد بنمط شيكاغو

See Toh, Chee Wai., و John Hock Lye Pang. Thermal Stress Analysis of Electronic Packaging Components. 2008.

MLA استشهاد

See Toh, Chee Wai., و John Hock Lye Pang. Thermal Stress Analysis of Electronic Packaging Components. 2008.

تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.