He, L., & Rusli. (2009). Investigation of multilayer thin films using ellipsometry.
استشهاد بنمط شيكاغوHe, Lining., و Rusli. Investigation of Multilayer Thin Films Using Ellipsometry. 2009.
MLA استشهادHe, Lining., و Rusli. Investigation of Multilayer Thin Films Using Ellipsometry. 2009.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.