Heng, D. E., & Bihan, W. (2024). Anomaly detection for X-ray of PCB & IC images. Nanyang Technological University.
استشهاد بنمط شيكاغوHeng, Daryl Ew-Jynn, و Wen Bihan. Anomaly Detection for X-ray of PCB & IC Images. Nanyang Technological University, 2024.
MLA استشهادHeng, Daryl Ew-Jynn, و Wen Bihan. Anomaly Detection for X-ray of PCB & IC Images. Nanyang Technological University, 2024.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.