Atomic-thin WS2 kirigami for bidirectional polarization detection
The assembly and patterning engineering in two-dimensional (2D) materials hold importance for chip-level designs incorporating multifunctional detectors. At present, the patterning and stacking methods of 2D materials inevitably introduce impurity instability and functional limitations. Here, the sp...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | , , , , , , , , , , , , |
---|---|
مؤلفون آخرون: | |
التنسيق: | مقال |
اللغة: | English |
منشور في: |
2024
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/180833 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | Nanyang Technological University |
اللغة: | English |