Far field prediction of radiated emission from pcb using near-field measurement

This report presents a new near field to far field transformation by using a statistical model approach that has yet to be introduced in the EMC community. The report begins with the introduction of near field to far field transformation which includes the background, motivation, objectives and scop...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Loo, Shin Yi.
مؤلفون آخرون: See Kye Yak
التنسيق: Final Year Project
اللغة:English
منشور في: 2010
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://hdl.handle.net/10356/40583
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: Nanyang Technological University
اللغة: English