أرسل هذا في رسالة قصيرة

رقم:

مقدم:

كابتشا:

  ______     ___     _    _    _    _    _    _   
 /_   _//   / _ \\  | |  | || | || | || | \  / || 
   | ||    | / \ || | |/\| || | || | || |  \/  || 
  _| ||    | \_/ || |  /\  || | \\_/ || | .  . || 
 /__//      \___//  |_// \_||  \____//  |_|\/|_|| 
 `--`       `---`   `-`   `-`   `---`   `-`  `-`

يرجى إدخال ما تراه::

أرسل هذا في رسالة قصيرة: Atomistic simulation study of high-κ oxide defects for understanding gate stack and RRAM reliability