Phase Fourier Reconstruction for Anomaly Detection on Metal Surface Using Salient Irregularity

• المؤلفون الرئيسيون: Hung, Tzu-Yi, Vaikundam, Sriram, Natarajan, Vidhya, Chia, Liang-Tien
• مؤلفون آخرون: School of Computer Science and Engineering
• التنسيق: Conference or Workshop Item
• اللغة: English
• منشور في: 2017
• الموضوعات: Defect detection; Anomaly detection
• الوصول للمادة أونلاين: https://hdl.handle.net/10356/83030; http://hdl.handle.net/10220/42366
• المؤسسة: Nanyang Technological University

12 p.