Majority and minority voted redundancy scheme for safety-critical applications with error/no-error signaling logic
In the era of nanoelectronics, multiple faults or failures of function blocks are likely to occur. To withstand these, higher levels of redundancy are suggested to be employed in at least the sensitive portions of a circuit or system. In this context, the N-modular redundancy (NMR) scheme may be use...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | , , |
---|---|
مؤلفون آخرون: | |
التنسيق: | مقال |
اللغة: | English |
منشور في: |
2018
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/88763 http://hdl.handle.net/10220/46974 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|