Valence-electron distribution in MgB2 by accurate diffraction measurements and first-principles calculations

We use synchrotron x-ray and precision electron-diffraction techniques to determine accurately the structure factors of reflections that are sensitive to the valence-electron distribution in the superconductor MgB2 . These values deviate significantly from those calculated using the scattering facto...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Wu, Lijun, Zhu, Yimei, Su, Haibin, Vogt, T., Tafto, J., Davenport, James W.
مؤلفون آخرون: School of Materials Science & Engineering
التنسيق: مقال
اللغة:English
منشور في: 2011
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://hdl.handle.net/10356/92217
http://hdl.handle.net/10220/6933
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!