Valence-electron distribution in MgB2 by accurate diffraction measurements and first-principles calculations
We use synchrotron x-ray and precision electron-diffraction techniques to determine accurately the structure factors of reflections that are sensitive to the valence-electron distribution in the superconductor MgB2 . These values deviate significantly from those calculated using the scattering facto...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | , , , , , |
---|---|
مؤلفون آخرون: | |
التنسيق: | مقال |
اللغة: | English |
منشور في: |
2011
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/92217 http://hdl.handle.net/10220/6933 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|