APA استشهاد

Pey, K. L., Lee, P. S., Tan, E. J., Kon, M. L., Zhang, Y. W., Wang, W. D., . . . Engineering, S. o. E. a. E. (2013). Effects of Si(001) surface amorphization on ErSi2 thin film.

استشهاد بنمط شيكاغو

Pey, Kin Leong, Pooi See Lee, Eu Jin Tan, M. L. Kon, Y. W. Zhang, W. D. Wang, Dong Zhi Chi, و School of Electrical and Electronic Engineering. Effects of Si(001) Surface Amorphization On ErSi2 Thin Film. 2013.

MLA استشهاد

Pey, Kin Leong, et al. Effects of Si(001) Surface Amorphization On ErSi2 Thin Film. 2013.

تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.