Determination of energy levels at the interface between O2 plasma treated ITO/P3HT : PCBM and PEDOT : PSS/P3HT : PCBM using angular-resolved x-ray and ultraviolet photoelectron spectroscopy

10.1088/0022-3727/47/5/055109

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Whitcher, Thomas J, Talik, Noor Azrina, Woon, Kailin, Chanlek, Narong, Nakajima, Hideki, Saisopa, Thanit, Songsiriritthigul, Prayoon
مؤلفون آخرون: CENTRE FOR ADVANCED 2D MATERIALS
التنسيق: مقال
منشور في: IOP Publishing 2019
الوصول للمادة أونلاين:https://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/155132
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: National University of Singapore