Integrated emission microscope for panchromatic imaging, continuous wavelength spectroscopy and selective area spectroscopic mapping
US5724131
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | CHIM, WAI KIN, CHAN, DANIEL SIU HUNG, PHANG, JACOB CHEE HONG, TAO, JING MEI, LIU, YONG YU |
---|---|
مؤلفون آخرون: | ELECTRICAL ENGINEERING |
التنسيق: | Patent |
منشور في: |
2012
|
الوصول للمادة أونلاين: | http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/32550 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
High-sensitivity photon emission microscope system with continuous wavelength spectroscopic capability
بواسطة: Tao, J.M., وآخرون
منشور في: (2014) -
A near-infrared, continuous wavelength, in-lens spectroscopic photon emission microscope system
بواسطة: Tan, S.L., وآخرون
منشور في: (2014) -
New spectroscopic photon emission microscope system for semiconductor device analysis
بواسطة: Liu, Y.Y., وآخرون
منشور في: (2014) -
Analysis and quantification of device spectral signatures observed using a spectroscopic photon emission microscope
بواسطة: Tao, J.M., وآخرون
منشور في: (2014) -
Design and performance of a new spectroscopic photon emission microscope system for the physical analysis of semiconductor devices
بواسطة: Chan, D.S.H., وآخرون
منشور في: (2014)