A burn-in scheme based on percentiles of the residual life

Journal of Quality Technology

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Ye, Z.S., Tang, L.C., Xie, M.
مؤلفون آخرون: INDUSTRIAL & SYSTEMS ENGINEERING
التنسيق: مقال
منشور في: 2014
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/53925
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: National University of Singapore