A physically segmented hidden markov model approach for continuous tool condition monitoring: Diagnostics and prognostics

• المؤلفون الرئيسيون: Geramifard, O., Xu, J.-X., Zhou, J.-H., Li, X.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
• التنسيق: مقال
• منشور في: 2014
• الموضوعات: Diagnostics; feature selection; hidden Markov model (HMM); prognostics; tool condition monitoring (TCM)
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/54707

10.1109/TII.2012.2205583