أرسل هذا في رسالة قصيرة: Magnetic force microscopy using focused ion beam sharpened tip with deposited antiferro-ferromagnetic multiple layers

   _____    ______    _  __    _____    __   _   
  / ___//  /_   _//  | |/ //  |  ___|| | || | || 
  \___ \\   -| ||-   | ' //   | ||__   | '--' || 
  /    //   _| ||_   | . \\   | ||__   | .--. || 
 /____//   /_____//  |_|\_\\  |_____|| |_|| |_|| 
`-----`    `-----`   `-` --`  `-----`  `-`  `-`