Fully integrated UWB microwave reflectometer in multi-layer microstrip-slot technology

• المؤلفون الرئيسيون: Seman, N., Bialkowski, M.E., Wee, C.K.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
• التنسيق: Conference or Workshop Item
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/70397
• المؤسسة: National University of Singapore

10.1109/APMC.2008.4957894