Reconstructions 3 × 3 and √3 × √3 on SiC(0 0 0 1) studied using RHEED

• المؤلفون الرئيسيون: Yakovlev, N., Xianning, X., Ping, L.K., Hai, X.
• مؤلفون آخرون: PHYSICS
• التنسيق: مقال
• منشور في: 2014
• الموضوعات: Electron diffraction; SiC; Surface reconstruction
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/76871
• المؤسسة: National University of Singapore

10.1016/j.susc.2009.04.033