Shen, C., Li, M., Wang, X., Yeo, Y., Kwong, D., & ENGINEERING, E. &. C. (2014). A fast measurement technique of MOSFET Id-Vg characteristics.
استشهاد بنمط شيكاغوShen, C., M.-F Li, X.P Wang, Y.-C Yeo, D.-L Kwong, و ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING. A Fast Measurement Technique of MOSFET Id-Vg Characteristics. 2014.
MLA استشهادShen, C., et al. A Fast Measurement Technique of MOSFET Id-Vg Characteristics. 2014.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.