أرسل هذا في رسالة قصيرة: Studies of NBTI in pMOSFETs with thermal and plasma nitrided SiON gate oxides by OFIT and FPM methods

 __   __   __   __    _  __     ___              
 \ \\/ //  \ \\/ //  | |/ //   / _ \\    ____    
  \   //    \ ` //   | ' //   | / \ ||  |    \\  
  / . \\     | ||    | . \\   | \_/ ||  | [] ||  
 /_//\_\\    |_||    |_|\_\\   \___//   |  __//  
 `-`  --`    `-`'    `-` --`   `---`    |_|`-`   
                                        `-`