Angle-resolved X-ray photoelectron spectroscopy of topmost surface for LaNiO3 thin film grown on SrTiO3 substrate by laser molecular beam epitaxy

• المؤلفون الرئيسيون: Chen, P., Xu, S.Y., Lin, J., Ong, C.K., Cui, D.F.
• مؤلفون آخرون: PHYSICS
• التنسيق: مقال
• منشور في: 2014
• الموضوعات: ARXPS; LaNiO3; Laser MBE; Topmost surface
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/95786

Applied Surface Science