Charge trapping on different cuts of a single-crystalline α-SiO 2

• المؤلفون الرئيسيون: Gong, H., Le Gressus, C., Oh, K.H., Ding, X.Z., Ong, C.K., Tan, B.T.G.
• مؤلفون آخرون: PHYSICS
• التنسيق: مقال
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/95977

10.1063/1.354778