Huan, C., Wee, A., Low, H., Tan, K., & PHYSICS. (2014). Secondary ion emission from silicon under 8 keV O2 + and Ar+ ion bombardment.
استشهاد بنمط شيكاغوHuan, C.H.A., A.T.S Wee, H.S.M Low, K.L Tan, و PHYSICS. Secondary Ion Emission From Silicon Under 8 KeV O2 + and Ar+ Ion Bombardment. 2014.
MLA استشهادHuan, C.H.A., et al. Secondary Ion Emission From Silicon Under 8 KeV O2 + and Ar+ Ion Bombardment. 2014.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.