การลดข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอยและรอยจุดเป็นกลุ่มบนจานบันทึกข้อมูลของฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟ
วิทยานิพนธ์ (วศ.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2555
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Theses and Dissertations |
| Language: | Thai |
| Published: |
จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
2014
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/42277 http://doi.org/10.14457/CU.the.2012.954 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Institution: | Chulalongkorn University |
| Language: | Thai |
| id |
th-cuir.42277 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| institution |
Chulalongkorn University |
| building |
Chulalongkorn University Library |
| continent |
Asia |
| country |
Thailand Thailand |
| content_provider |
Chulalongkorn University Library |
| collection |
Chulalongkorn University Intellectual Repository |
| language |
Thai |
| topic |
เครื่องอ่าน (อุปกรณ์ประมวลผลข้อมูล) การลดปริมาณของเสีย Reading machines (Data processing equipment) Waste minimization |
| spellingShingle |
เครื่องอ่าน (อุปกรณ์ประมวลผลข้อมูล) การลดปริมาณของเสีย Reading machines (Data processing equipment) Waste minimization อัญธิชา พงษ์ไตรรัตน์ การลดข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอยและรอยจุดเป็นกลุ่มบนจานบันทึกข้อมูลของฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟ |
| description |
วิทยานิพนธ์ (วศ.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2555 |
| author2 |
อังศุมาลิน เสนจันทร์ฒิไชย |
| author_facet |
อังศุมาลิน เสนจันทร์ฒิไชย อัญธิชา พงษ์ไตรรัตน์ |
| format |
Theses and Dissertations |
| author |
อัญธิชา พงษ์ไตรรัตน์ |
| author_sort |
อัญธิชา พงษ์ไตรรัตน์ |
| title |
การลดข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอยและรอยจุดเป็นกลุ่มบนจานบันทึกข้อมูลของฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟ |
| title_short |
การลดข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอยและรอยจุดเป็นกลุ่มบนจานบันทึกข้อมูลของฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟ |
| title_full |
การลดข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอยและรอยจุดเป็นกลุ่มบนจานบันทึกข้อมูลของฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟ |
| title_fullStr |
การลดข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอยและรอยจุดเป็นกลุ่มบนจานบันทึกข้อมูลของฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟ |
| title_full_unstemmed |
การลดข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอยและรอยจุดเป็นกลุ่มบนจานบันทึกข้อมูลของฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟ |
| title_sort |
การลดข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอยและรอยจุดเป็นกลุ่มบนจานบันทึกข้อมูลของฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟ |
| publisher |
จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย |
| publishDate |
2014 |
| url |
http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/42277 http://doi.org/10.14457/CU.the.2012.954 |
| _version_ |
1724629844373798912 |
| spelling |
th-cuir.422772019-09-30T08:00:27Z การลดข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอยและรอยจุดเป็นกลุ่มบนจานบันทึกข้อมูลของฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟ Spiral and cluster defect reduction of hard disk drive media อัญธิชา พงษ์ไตรรัตน์ อังศุมาลิน เสนจันทร์ฒิไชย จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะวิศวกรรมศาสตร์ เครื่องอ่าน (อุปกรณ์ประมวลผลข้อมูล) การลดปริมาณของเสีย Reading machines (Data processing equipment) Waste minimization วิทยานิพนธ์ (วศ.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2555 งานวิจัยนี้มีวัตถุประสงค์เพื่อลดจำนวนของเสียในกระบวนการผลิตฮาร์ดดิสก์ ไดร์ฟอันเนื่องมาจากข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอยและรอยจุดเป็นกลุ่มที่เกิดขึ้นที่จานบันทึกข้อมูล โดยการประยุกต์ใช้ 5 ขั้นตอนของเทคนิคซิกซ์ ซิกม่า ในขั้นแรกได้เลือกข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอยและรอยจุดเป็นกลุ่มมาวิเคราะห์ก่อนเนื่องจากมีความสำคัญที่สุด โดยมีสัดส่วนของเสียเท่ากับ 6.03% และ 2.53% ตามลำดับ ขั้นที่สองพบว่าระยะระหว่างตัวหยิบกับจานบันทึกข้อมูล ความคมของฝาครอบระยะยกตัวของชุดหัวอ่าน–เขียน และจำนวนการทดสอบ load/unload คือ ปัจจัยนำเข้าที่มีผลต่อข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอย ขณะที่แรงลมในการฉีดวางและแรงลมในการดูดหยิบแผ่นคั่นจานบันทึกข้อมูล คือ ปัจจัยที่มีผลต่อข้อบกพร่องประเภทรอยจุดเป็นกลุ่ม ถัดมาได้ทำการออกแบบการทดลองแบบบ็อกซ์-เบ็ห์นเคนและการทดลองเชิงแฟคทอเรียลตามลำดับ โดยผลที่ได้จากการออกแบบการทดลองจะใช้วิธีการวิเคราะห์พื้นผิวตอบสนองถูกประยุกต์ใช้เพื่อหาค่าที่เหมาะสมที่สุดสำหรับปัจจัยจำนวนสี่ปัจจัยซึ่งจะทำให้เปอร์เซ็นต์ข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอยน้อยที่สุด ส่วนวิธีเชิงเส้นทั่วไปถูกประยุกต์ใช้เพื่อหาค่าปัจจัยจำนวนสองปัจจัยสำหรับข้อบกพร่องประเภทรอยจุดเป็นกลุ่ม โดยค่าของปัจจัยที่เหมาะสมที่สุดในกระบวนการ คือ ระยะระหว่างตัวหยิบกับจานบันทึกข้อมูล 3 มิลลิเมตร ความคมของฝาครอบ 0.002 นิ้ว ระยะยกตัวของชุดหัวอ่าน – เขียน 0.01 นิ้ว และจำนวนการทดสอบ load/unload 10,000 ครั้ง เมื่อติดตามผลด้วยแผนภูมิควบคุม p สำหรับข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอย แผนภูมิความคุม p นี้ยังใช้ในการติดตามผลของข้อบกพร่องประเภทรอยจุดเป็นกลุ่มด้วยเงื่อนไขของกระบวนการที่สนใจ คือ 2,250 มิลลิเมตรปรอท และ 440 มิลลิเมตรปรอท ของแรงในการฉีดวางและดูดหยิบแผ่นคั่นจานบันทึกข้อมูลตามลำดับ หลังการปรับปรุง พบว่าสัดส่วนของข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอยลดลง 53.56% โดยลดจากเดิม 6.03% เป็น 2.80% ขณะที่สัดส่วนของข้อบกพร่องประเภทรอยจุดเป็นกลุ่มลดลง 60.55% โดยลดจากเดิม 2.53% เป็น 0.99% The objective of this study is to reduce the number of defects in hard disk drive manufacturing from spiral and cluster scratches on media by applying DMAIC steps of Six Sigma approach. The spiral and cluster scratches are firstly identified as the significant loss with 6.03% and 2.53% defective rate, respectively. Secondly, the paddle to disk space, the top cover edge sharpness, the pitch static attribute and the number of load/unload cycle are found to be the key process input variables (KPIV) for the spiral scratch. While the disk separator plate ejected pressure and the disk separator plate vacuum pressure are the KPIVs for the cluster scratch. The experiments based on four KPIVs for spiral scratch and two KPIVs for cluster scratch are then tested by following Box Behnken and Full Factorial design, consecutively. With the results from the experiments, the response surface method is applied to determine the optimal setting for these four KPIVs with respect to the minimum percentage of the spiral scratch. Whereas the general linear model is applied to determine the process setting for two KPIVs of the cluster scratch. Finally, the process with the optimal settings of the paddle to disk space at 3 mm., the top cover edge sharpness at 0.002 inch, the pitch static attitude at 0.01 inch and the number of load/unload cycle at 10,000 times is implemented and monitored by the p control chart for the spiral scratch. The p control chart is also implemented for the cluster scratch with the suggested process conditions at 2,250 mmHg and 440 mmHg of the disk separator plate ejected pressure and the disk separator plate vacuum pressure, respectively. After the improvement, the defective rate of spiral scratch is decreased by 53.56% from 6.03% to 2.80% whereas the defective rate of cluster defect is decreased by 60.55% from 2.53% to 0.99%. 2014-04-30T10:13:00Z 2014-04-30T10:13:00Z 2555 Thesis http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/42277 10.14457/CU.the.2012.954 th http://doi.org/10.14457/CU.the.2012.954 จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย application/pdf จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย |