#TITLE_ALTERNATIVE#
Determining the thickness and refractive index multiple layer with analysis of attenuated total reflectance curve by curve fitting of Winspall software. Measurement of thickness and refractive index of multilayer can be made by the reflection method. Measurement techniques used in this thesis is to...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| التنسيق: | Final Project |
| اللغة: | Indonesia |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://digilib.itb.ac.id/gdl/view/16667 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
| المؤسسة: | Institut Teknologi Bandung |
| اللغة: | Indonesia |
كن أول من يترك تعليقا!