Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
771 p.
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| التنسيق: | كتاب |
| اللغة: | English |
| منشور في: |
Springer
2017
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | http://repository.vnu.edu.vn/handle/VNU_123/29329 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|