Windowed Fourier ridges for demodulation of carrier fringe patterns with nonlinearity : a theoretical analysis

Accurately extracting phase or phase derivative is the most important requirement in optical metrology. However, in practice, there are many error sources, among which nonlinear distortion in fringe patterns is often encountered. Several techniques have been proposed over time to remove the nonlinea...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Agarwal, Nimisha, Wang, Chenxing, Qian, Kemao
مؤلفون آخرون: School of Computer Science and Engineering
التنسيق: مقال
اللغة:English
منشور في: 2020
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://hdl.handle.net/10356/140095
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: Nanyang Technological University
اللغة: English