اكتمل التصدير — 

Characterization of deep submicrometer devices for RF applications

The objective of this project is to adaptively develop new high performance advanced SPICE compatible deep submicrometer MOSFETs models suitable for RFIC design, together with an efficient parameter extraction methodology. These models will incorporated the many effects induced by multi-finger MOS t...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Ng, Tze Cheng.
مؤلفون آخرون: Yeo, Kiat Seng
التنسيق: Theses and Dissertations
منشور في: 2008
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://hdl.handle.net/10356/4967
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: Nanyang Technological University