Failure analysis of hard disk drive components
A new electrical tagging pattern, which applies a non-return-to zero scheme to directly translate the channel bits to magnetic transitions during the writing of the magnetic pattern around the defect is used. With the help of Kerr magneto-effect, the defective sector is effectively located for furth...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | |
| التنسيق: | Theses and Dissertations |
| منشور في: |
2008
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | http://hdl.handle.net/10356/5737 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|