Enhanced charge storage capability of Ge/GeO2 core/shell nanostructure

A Ge/GeO2 core/shell nanostructure embedded in an Al2O3 gate dielectrics matrix was produced. A larger memory window with good data retention was observed in the fabricated metal–insulator–semiconductor (MIS) capacitor for Ge/GeO2 core/shell nanoparticles compared to Ge nanoparticles only, which is...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Yuan, C. L., Lee, Pooi See
مؤلفون آخرون: School of Materials Science & Engineering
التنسيق: مقال
اللغة:English
منشور في: 2013
الوصول للمادة أونلاين:https://hdl.handle.net/10356/97279
http://hdl.handle.net/10220/10538
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: Nanyang Technological University
اللغة: English