Computing average run lengths of exponential EWMA charts

Journal of Quality Technology

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Gan, F.F., Chang, T.C.
مؤلفون آخرون: STATISTICS & APPLIED PROBABILITY
التنسيق: مقال
منشور في: 2014
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/105066
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!